梅特勒 托利多分析天平 AB/AL

AB 分析天平

■ 采用高分辨率称量单元，满足用户精度的称量需求。
■ AB-S/FACT采用温度漂移及时间设置触发的全自动校准技术（FACT），有效消除环境温度变化对称量结果精确性的影响；AB-S彩内置砝码自动校准，AB-L采用外置砝码自动校准，确保称量结果的精确性。
■ 双量和（DualRange）设计，满足客户对不同样品精确称量的需求。
■ 采用背亮式液晶显示屏（可读性0.01mg型号除外），方便用户在不同称量环境下读取称量结果。
■ 全金属铸铝制成的防化撞击机架，保证了天平的长期使用。
■ 标配机架塑料保护罩，避免散落样品的腐蚀。
■ 内置RS232C通讯接口，方便连接打印机、电脑等外围设备。
■ 具有简单称量、百分比称量、计件称量、动态称量、加减称量等内置应用程序。

产品规格：

AL 分析天平

■ 采用具有良好耐腐蚀、抗冲击性能的ABS工程塑料，确保天平结构的轻便、坚固。
■ 清晰的显示屏和键盘设计、方便用户使用。
■ AL-IC采用内置砝码自动校准，AL采用外置砝码校准，确保称量结果的准确性。
■ 内置RS232C通讯接口，方便连接打印机、电脑等外围设备。
■ 标配机架塑料保护罩（In-Use cover），避免散落样品的腐蚀。
■ 具有简单称量、百分比称量、计件称量、动态称量、加减称量等内置应用程序。

产品规格：